لایه نشانی به روش کندوپاش| اسپاترینگ رومیزی

شرکـت پوشــش های نانو ساختـار تولید کننده انــواع سیستمهای لایه نشانی در خلأ و اسپاترینگ

لایه نشانی به روش کندوپاش| اسپاترینگ رومیزی

شرکـت پوشــش های نانو ساختـار تولید کننده انــواع سیستمهای لایه نشانی در خلأ و اسپاترینگ

لایه نشانی به روش کندوپاش| اسپاترینگ رومیزی

شرکـت پوشــش های نانو ساختـار با بیـش از 20 سال تجـربه در زمـینه طـراحــی و سـاخت انــواع سیستمهای لایه نشانی در خلأ، سیسم اسپاترینگ تک کاتده، دستگاه پوشش دهی کربنی، اسپاترینگ، لایه نشانی، میکرو آنالیز، تبخیر حرارتی، لایه نشانی با لیزر پالسی، لایه نشانی به روش pvd، لایه نشانی به روش کندوپاش، لایه نشانی به روش اسپری، لایه نشانی pld، لایه نشانی تبخیر حرارتی، لایه نشانی به روش اسپاترینگ، لایه نشان کربن تحت خلاء و سیستم لایه نشانی رومیزی تحت خلاء، از پیشگامان این حوزه در ایران به شمار می رود. این شرکت بر آمده از دل تحقـیـقات دانشـگاهی و مؤسـسین آن از اعضای هیـات علمــی دانشـگاه های برتر کشـور می باشند که به خوبی از نیازهای مراکز دانشگاهی، آموزشی و تحقیقاتی کشور آگاهند.

https://pvd.ir

طبقه بندی موضوعی

۱ مطلب با کلمه‌ی کلیدی «لایه نشانی» ثبت شده است

  • ۰
  • ۰

bias voltage


تاثیر اعمال ولتاژ بایاس به زیرلایه در کیفیت لایه نازک ایجاد شده در فرایند لایه نشانی تحت خلا به روش اسپاترینگ


ادوات اپتوالکترونیک، قطعات الکترونیکی هستند که یا نور تولید می کنند یا در عملکرد خود از نور استفاده می کنند. لیزرهای دیودی و دیودهای ساطع کننده نور (LEDs) از جمله ادواتی هستند که با استفاده از انرژی الکتریکی، نور تولید می کنند. در مقابل سلول‌های خورشیدی و فتوولتاییک قرار دارند که نور را به انرژی الکتریکی تبدیل می‌کنند.


سولفید کادمیم از جمله موادی است که ویژگی های آن جهت کاربرد در سلول های خورشیدی بسیار مورد توجه قرار گرفته است. تاثیر قرار گرفتن یک لایه نازک ایتریم بین دو لایه نازک از سولفید کادمیم (CdS/Y/CdS) جهت افزایش جریان الکتریکی حاصل از جذب نور توسط محققان بررسی شده است. استفاده از این ترکیب موجب افزایش 5 برابری جذب نور وجریان الکتریکی حاصل از آن نسبت به لایه نازک سولفید کادمیم شده است.


در صورت تمایل به مطالعه ادامه مطلب به لینک زیر مراجعه نمایید:

تاثیر اعمال ولتاژ بایاس به زیرلایه در کیفیت لایه نازک ایجاد شده در فرایند لایه نشانی تحت خلا به روش اسپاترینگ


  • pvd